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掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長

標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          

標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測(cè)器 (DRY SD)，能夠進(jìn)行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對(duì)中形樣品臺(tái)可以對(duì)應(yīng)各種樣品。

電子光學(xué)系統(tǒng)                                                

JSM-IT100A是日本電子株式會(huì)社推出機(jī)型，沿襲日本電子的電子光學(xué)系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設(shè)計(jì)精簡(jiǎn)自動(dòng)化程度高。

使用多點(diǎn)觸摸屏，操作舒適                                            

JSM-IT100A通過多點(diǎn)觸控技術(shù)和的操作軟件，操作直觀簡(jiǎn)單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡(jiǎn)明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像，進(jìn)行EDS元素分析。

主要參數(shù):

放大倍數(shù): ×5~×300,000 

探測(cè)器:二次電子探測(cè)器/半導(dǎo)體背散射電子探測(cè)器

加速電壓:0.5KV ~ 20KV

zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品

探測(cè)器:電制冷方式BOX-SDD探測(cè)器 -無需使用液氮

標(biāo)準(zhǔn)搭載功能:

Qualitative Analysis 定性分析

Quantitative Analysis 定量分析

Active Mapping 活區(qū)面分析

Point Analysis   點(diǎn)分析

Probe Tracking 束流追蹤