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二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實現了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學系統(tǒng), 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。

二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進行結構和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應對當今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品，得到所有數據”， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質和元素組成。

二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。

二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

二手FIB+雙束FIB+場發(fā)射電鏡在高科技領域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術的企業(yè)，其產品在全球范圍內被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應商，現提供現貨供應的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

二手SEM+EDX場發(fā)射電鏡:超高分辨率：場發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠實現表面形貌觀察和成分分析。

sigma500 二手蔡司場發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設備，它采用成熟的GEMINI光學系統(tǒng)設計，分辨率超過0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設備專注于EDS幾何學設計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應用程序，獲取微小粒子、表面、納米結構等多種圖像信息

二手日立SU-8010場發(fā)射電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

二手HITACHI-SU8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

（2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察。