產品名稱：二手日本電子SEM+EDX
產品型號：
更新時間：2024-05-09
產品特點：二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。
產品詳細資料：
二手日本電子SEM+EDX主要特長
優(yōu)秀電子光學系統 JSM-IT300A是株式會社最新升級版機型，集合了分析掃描電鏡精髓功能，結構緊湊、節(jié)省空間，分辨率高。
操作舒適快捷 JSM-IT300A擁有非常直觀的操作系統，即使沒有經驗的用戶也可進行操作高品質的SEM圖像，以及高效率元素分析。可支持操作觸摸屏。
安裝的靈活性 二手日本電子SEM+EDX節(jié)省空間，安裝方便。一個電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。
JSM-IT300A性能參數
Main Performance on JSM-IT200A
Performance (一) 主要性能 | |
SEI Mode Resolution 二次電子圖像分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
BEI Mode Resolution 背散射電子模式分辨率 | 4.0nm@30KV |
Magnification 放大倍數 | ×5~×300,000（底片倍率） ×14~×839,724（顯示器倍率） |
Detectors 探測器 | Secondary Electron Detector 二次電子探測器 ★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent) 半導體型背散射電子探測器(技術) |
Image Mode 圖像模式 | Secondary Electron Image 二次電子圖像 REF Image REF像 Composition Image (Backscattered Electron Image) 成份像 (背散射電子圖像) Topography Image (Backscattered Electron Image) 形貌像 (背散射電子圖像) Shadow Image (Backscattered Electron Image) 立體像 (背散射電子圖像) |
Live Image Display 實時圖像顯示 | Dual Live Image Display, Split Live Image, 雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示 |
Accelerating Voltage 加速電壓 | 0.5KV ~ 30KV |
Probe Current 探針束流 | 1pA ~ 0.3uA |
Electron Optics (二) 電子光學系統 | |
Filament 燈絲 | Factory pre-centered tungsten hairpin filament 工廠預對中鎢燈絲 |
★Gun Bias Voltage 電子槍偏壓 | Seamless automatic bias 無縫式自給偏壓, 連續(xù)調整 |
Gun Alignment 電子槍合軸 | Auto alignment 自動合軸 |
Filament Heating 燈絲加熱 | Auto heating 自動加熱 |
★Condenser Lens 聚光透鏡 | Two stage zoom type condenser lens – (patent) 變焦聚光透鏡系統 – 技術 |
★Objective Lens 物鏡 | Super conical type objective lens 超級錐形物鏡 |
Objective Lens Aperture 物鏡光闌 | 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions 1孔固定，可在X和Y方向微調 |
Focus 聚焦 | Auto/Manual focus 自動/手動聚焦 |
Stigmator 像散 | Auto/Manual stigmator 自動/手動消像散 |
★Stigmator Memory 像散存儲器 | Standard, Auto/Manual 標準配置，自動/手動補償像散 |
★Electrical Image Shift 圖像移動 | X-Y , ±50um |
Specimen Stage (三) 樣品臺 | |
Type 樣品臺類型 | Eucentric type stage 全對中樣品臺 |
Traverse 行程 | X : 80mm; Y : 40mm; Z : 5 ~ 48mm; 傾斜 T: -10 ~ +90° 旋轉 R: 360°連續(xù)endless |
Maximum Specimen Size 最大樣品尺寸 | 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted 可裝直徑150mm高度為48mm的樣品 |
Maximum Size of Observation 最大觀察視野 | 127mm diameter 直徑127mm |
Image Display (四) 圖形顯示 | |
Pixels 顯示像素 | 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840 |
Image Process 圖像處理 | Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image 平均值, 灰度修正, 反差增強, 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數碼變焦 |
高品質的圖像
通過改進電子光學系統，使圖像質量更高，分析更快。
減少了充放電現象
新的掃描方式能抑制非導電性樣品的荷電效應。
低真空模式(LV)
低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa，拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。
樣品臺導航系統
全自動5 軸馬達驅動樣品臺提高了尋找感興趣的區(qū)域（ROI）的速度。使用導航系統（選配件）在彩色圖像上能迅速到達感興趣的區(qū)域。
大型樣品室和樣品臺。
能容納大型、較重的樣品，可裝載**尺寸為200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達2 kg 的樣品。
**幾何設計的分析接口。
多個接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面，此外，還能安裝兩個相隔180 度的EDS 檢測器用于高通量的顯微分析。
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